金融界2024年12月21日消息，国家知识产权局信息显示，成都紫光国芯电子有限公司申请一项名为“存储模块温度控制系统及方法”的专利，公开号CN119152923A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本发明提出了存储模块温度控制系统及方法，属于存储模块性能测试技术领域，该系统包括主控、温控组件和温控装置，温控组件包括：安装腔室、加热层以及导热风扇，安装腔室用于为存储模块提供测试腔体，加热层用于加热测试腔体；导热风扇置于安装腔室内的加热层上，用于扰动测试腔体内的温度；主控，用于将区间目标温度发送给温控装置；温控装置分别与主控及温控组件连接；温控装置用于获取存储模块温度，将存储模块温度与区间目标温度进行对比，根据对比结果控制加热层停止加热或加热层提高加热能力。本发明在进行存储模块的高温测试时，实现了存储模块温度的自动化控制，提高了测试效率。

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